分析与衬底同型的注入分段二次强反型模型

信息来源: 时间:2022-7-12

分析与衬底同型的注入分段二次强反型模型

我们可以对电流公式进行简化,从而导出—个与式(4.4.30)有关的近似模型。利用类似于导出式(4.4.30)的方法,或者干脆直接通过式(6.2.27)的一种适当的展开式,便可得到这种简化模型。但是,这里必须使用两个不同的δ参数:与注入区有关的δ1和与非注入衬底有关的δ2。详细过程概括在题6.2的说明中。我们发现,在这样一种模型中,重又得到了下面形式的非饱和的电流:

MOS管分段二次强反型模型 

只是其中的Ii(VK,VN)为:

MOS管分段二次强反型模型

式中VTimage.pngimage.png=1,2由式(6,.2.23)给出。参数δ1δ2必须仔细地加以选择,因为它们本是VDB过临界值VI时,保证ID-VDB特性曲线斜率的连续性的关键参数。我们不希望斜率出现间断点,因为这将导致小信号参数的不连续性,从而使模型用于电路分析的计算机程序时产生数值问题。这—点将乍题6.2的说明中进一步讨论,该题中,建议δ1和δ2用下列值:

MOS管分段二次强反型模型

使用δ1的表达式时,应该谨慎从事,因为当VSB十分接近VI,表达式中将出现一个几乎相等的两数之差的比值,这个比值可能会损失数值精度。当VSB=VI,式(6.2.37a)成为不定式,此时可用它在该点的极限image.png来代替。

    不难证明,

image.png

这可能是意料中的,因为δ1描述重掺杂注入区,而δ2描述非注入衬底。和在均匀衬底时所做的不同[参看式(4.4.33)和有关的讨论],在这里我们不能为了与实验结果取得最佳一致而完全自由地选择δ参数;我们的选择受到ID及其导数必须是连续的限制。因此不能期望在所有情况下,上述简单模型都能很好地与测量结果一致。然而,为了对正在讨论的器件说明其I-V特性的一些重要方面,我们还将需要上述模型的简单性。有兴趣的读者可能想对这个简单模型用经验的方法加以改进。

和以前一样,在饱和区可以使用式(6.2.33),其中V´DB确定为当非饱和公式给出dlDN/dVDB=0时的VDB值。如果VSB<VI,并且夹断出现在DB<VI时,则利用式(6.2.35a)

和(6.2.36),可得

image.png

可是,如果上式预计的DB大于VI,则应该认识到此时夹断点位于注入区之外,因此应当使用式(6.2.35c)和(6.2.36),并得到

MOS管分段二次强反型模型

最后,如果VI<VSB<VDB,则可用式(6.2.35b)和(6.2.36),求得

MOS管分段二次强反型模型

 完整的强反型模型还是用式(6.2.34)给出,不过IDN和V´DB的表达式要按上面解释的那样来选择。

为简单起见,有时用4.4.2节中的非注入沟道近似模型代替上述模型。在这种情况下,我们规定参数δ、VFB、ΦB和γ都是单一的“折衷”值。当注入剂量较低时,这样一种方法可以给出满意的结果。但是,当注入剂量较高时,它的结果是不精确的。图6.6是高剂量注入器件的image.png与VGS的关系曲线(此图与图4.29形成对照)。这种特性无法用4.4.3节中的模型预测,但是可以解释如下:首先假定VSB=0。当VGS较低时,V´DS。也较低,且DB<VI。若饱和电流为I´D,则利用式(6.2.33),(6.2.35a),(6.2.36)和(6.2.39),可以求得

MOS管分段二次强反型模型

式(6.2.43)如图6.6中的虚线2所示。注意,式(6.2.43)中的VGS的截距比式(6.2.42)中的大,斜率也是前者大于后者,这是因为上面提到过的δ2<δ1的缘故。如图中所示,一个真实器件的曲线,当VGS较低时,接近于曲线1,当VGS较高时,接近于曲线2,最后,当VSB>VI时,式(6.2.33),(6.2.35b)和(6.2.41)给出

image.png

式(6.2.44)如图6.6中右边那条实线的直线部分所示(底部的弯曲部分是由中反型和弱反型引起的)。在这种情况下,预测斜率只有单一的值(当然假定迁移率与VGS无关)。

MOS管分段二次强反型模型


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